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輝光放電發(fā)射光譜儀是一種對(duì)金屬和非金屬固體材料進(jìn)行定性和定量分析的光譜方法，用來(lái)檢測(cè)鍍層厚度及化學(xué)成分金屬材料基體化學(xué)成分。測(cè)量原理：將樣品置于輝光放電源中，作為陰極進(jìn)行切換。輝光放電源在低壓下充滿氬氣。在空心陽(yáng)極和陰極之間施加直流電壓（樣品）。由于直流電壓的能量輸入，氬原子被電離，形成等離子體。氬離子向負(fù)樣品表面加速并擊落一些樣品原子（“濺射”）。被濺射出的樣品原子擴(kuò)散到等離子體中，在那里它們與高能電子碰撞。在這些碰撞過(guò)程中，能量被傳遞給樣品原子，促使它們進(jìn)入激發(fā)態(tài)，并很快...

美國(guó)TA熱重分析儀是一種能夠測(cè)定樣品隨時(shí)間或溫度變化而改變質(zhì)量的儀器。它可以通過(guò)監(jiān)測(cè)樣品質(zhì)量的變化來(lái)探索材料的熱穩(wěn)定性、氧化性、分解機(jī)理等信息。作為一種常見(jiàn)的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備，TA在材料科學(xué)、化學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。美國(guó)TA熱重分析儀是熱重分析儀領(lǐng)域的一款品牌，其產(chǎn)品具有高精度、高靈敏度、高自動(dòng)化等特點(diǎn)，廣受用戶認(rèn)可。下面將從原理、技術(shù)特點(diǎn)、應(yīng)用等方面介紹。一、原理TA熱重分析儀主要基于樣品質(zhì)量對(duì)溫度和時(shí)間的響應(yīng)曲線進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)樣品被加熱時(shí)，樣品中的化學(xué)鍵被打斷，產(chǎn)生...

掃描電子顯微鏡SEM是一種常見(jiàn)的顯微鏡，它利用電子束來(lái)成像樣品的表面結(jié)構(gòu)，比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡具有更高的分辨率和放大倍數(shù)。本文將介紹原理、應(yīng)用以及未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)。探秘掃描電子顯微鏡SEM的原理是基于電子束與物質(zhì)的相互作用而形成圖像。電子束從電子槍中發(fā)射出來(lái)，經(jīng)過(guò)加速器后被聚焦在一個(gè)非常小的點(diǎn)上，然后照射到樣品表面上。樣品會(huì)反射、散射或透射電子束，這些信號(hào)被探測(cè)器捕捉并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，最終形成圖像。SEM的分辨率通常可以達(dá)到納米級(jí)別，因?yàn)殡娮邮牟ㄩL(zhǎng)比可見(jiàn)光短得多。同時(shí)，可以提供三維圖...

鎢燈絲掃描電子顯微鏡是一種現(xiàn)代而強(qiáng)大的顯微鏡，它能夠讓我們深入了解微觀世界的結(jié)構(gòu)和特性。本文將介紹工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及優(yōu)勢(shì)。工作原理基于電子顯微鏡技術(shù)，不同之處在于，使用高能電子束來(lái)掃描樣品表面并產(chǎn)生較高分辨率圖像。核心部件包括一個(gè)電子槍、樣品臺(tái)、檢測(cè)系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理模塊。在SEM中，電子束從電子槍發(fā)射出來(lái)，經(jīng)過(guò)加速器和聚焦透鏡后，形成高能電子束。這個(gè)電子束被聚焦到非常小的直徑，并沿著樣品表面進(jìn)行掃描。當(dāng)電子束與樣品表面相互作用時(shí)，會(huì)發(fā)生各種物理和化學(xué)響應(yīng)，包括反射、散射、透...

導(dǎo)通電阻測(cè)試是一項(xiàng)在電子工程領(lǐng)域中常用的技術(shù)，它可以測(cè)量電路中兩個(gè)點(diǎn)之間的電阻值，以判斷電路是否處于通電狀態(tài)。在制造和維護(hù)電子設(shè)備時(shí)，導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)是非常重要的工具。導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)的工作原理是利用內(nèi)部電池產(chǎn)生的微弱電流來(lái)檢測(cè)電路中的電阻。在測(cè)試開(kāi)始前，測(cè)試系統(tǒng)會(huì)先將被測(cè)電路斷開(kāi)，并通過(guò)測(cè)試夾具連接到測(cè)試儀器上。然后，測(cè)試系統(tǒng)會(huì)向待測(cè)試電路施加一個(gè)微小的電壓(通常為1-20V)，并測(cè)量通過(guò)電路的電流。根據(jù)歐姆定律，通過(guò)電路的電流與電阻成正比，因此測(cè)試系統(tǒng)可以通過(guò)測(cè)量電路中的...

為消除粉末樣品中的粒度效應(yīng)和礦物效應(yīng)，提高分析結(jié)果的準(zhǔn)確性，常常需要將粉末樣品與助熔劑，脫模劑等混合熔融形成玻璃體后進(jìn)行分析。采用玻璃熔片法優(yōu)點(diǎn)：1.可用純氧化物或用已有的標(biāo)準(zhǔn)樣品中加添加物的方法獲得新的標(biāo)準(zhǔn)樣品，這樣可以使標(biāo)準(zhǔn)樣品所含元素的含量范圍擴(kuò)大；2.由于熔劑和試樣比通常大于5：1，因此可有效降低元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)；3.熔融后的標(biāo)準(zhǔn)樣品可長(zhǎng)期保存。缺點(diǎn)：1.消耗試劑，制樣時(shí)間較長(zhǎng)，增加分析成本；2.由于稀釋降低了強(qiáng)度，并因含有大量的輕元素如硼、氧等，使背景強(qiáng)度增加，對(duì)...

引言：在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中，人們經(jīng)常需要了解不同物質(zhì)的性質(zhì)和組成。其中，光譜分析技術(shù)是一種重要的手段。而斯派克直讀光譜儀作為一種快速準(zhǔn)確獲取物質(zhì)光譜信息的儀器，近年來(lái)越來(lái)越受到人們的關(guān)注。本文將介紹基本原理、應(yīng)用領(lǐng)域和發(fā)展前景。正文：一、基本原理斯派克直讀光譜儀是一種利用漫反射原理進(jìn)行光譜測(cè)量的儀器。它主要由燈源、衍射光柵、樣品池、探測(cè)器等部件組成。當(dāng)燈源發(fā)出光線后，通過(guò)衍射光柵可以將不同波長(zhǎng)的光分離出來(lái)，經(jīng)過(guò)樣品池時(shí)，被待測(cè)的物質(zhì)吸收或透過(guò)，在接收端的探測(cè)器上測(cè)得其相應(yīng)的...

全譜直讀光譜儀采用CCD作為檢測(cè)器，因?yàn)槭敲鏍顧z測(cè)器，所以檢測(cè)可以覆蓋全譜，可以根據(jù)需求來(lái)選擇分析譜線；特別是可以利用一個(gè)元素有多條特征譜線的原理，針對(duì)某個(gè)元素選用多個(gè)分析譜線來(lái)做分析；由于使用了全譜技術(shù)，能夠?qū)⑷康淖V線接受，所以設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，可移動(dòng)且便于使用，適用于實(shí)驗(yàn)室及現(xiàn)場(chǎng)分析。那么儀器在使用的時(shí)候有什么需要注意的事項(xiàng)嗎？1、儀器發(fā)生故障時(shí)應(yīng)及時(shí)報(bào)告技術(shù)人員處理.儀器發(fā)生異常現(xiàn)象時(shí),馬上關(guān)閉電源,保護(hù)現(xiàn)場(chǎng)并及時(shí)上報(bào)。2、不準(zhǔn)亂按鍵盤(pán)，操作人員不得進(jìn)入操作規(guī)程規(guī)定以外的...